早稲田大学ナノテクノロジーリサーチセンター

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WS-007 ICP-RIE装置

ICP-RIE装置


装置分類 ドライエッチング装置群
設備ID WS-007
設備名 ICP-RIE装置
設備名(英語) Inductively Coupled Plasma reactive ion etching
型番 RIE-101iPH
メーカー名 サムコ(株)
設置場所 202
特徴 表面処理・エッチング プラズマエッチング
仕様汎用反応性エッチング装置 Si、Ti等の微細エッチング可 基板サイズは~4inch 使用可能ガス:SF6、C3F8、CHF3、O2、Ar 基板は冷却(水冷+Heガス)