早稲田大学ナノテクノロジーリサーチセンター
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WS-007 ICP-RIE装置
ICP-RIE装置
装置分類
ドライエッチング装置群
設備ID
WS-007
設備名
ICP-RIE装置
設備名(英語)
Inductively Coupled Plasma reactive ion etching
型番
RIE-101iPH
メーカー名
サムコ(株)
設置場所
202
特徴
表面処理・エッチング プラズマエッチング
仕様
汎用反応性エッチング装置 Si、Ti等の微細エッチング可 基板サイズは~4inch 使用可能ガス:SF6、C3F8、CHF3、O2、Ar 基板は冷却(水冷+Heガス)
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