早稲田大学ナノテクノロジーリサーチセンター

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WS-011 電界放出型走査電子顕微鏡1

電界放出型走査電子顕微鏡1


装置分類 電子顕微鏡群
設備ID WS-011
設備名 電界放出型走査電子顕微鏡1
設備名(英語) Field-Emission Scanning Electron Microscope 1
型番 S-4800
メーカー名 (株) 日立ハイテク
設置場所 216
特徴 FE-SEM 走査型電子顕微鏡
仕様試料サイズ最大20mm角 セミインレンズ方式による高分解能(~x600k) EDAXによる元素分析