早稲田大学ナノテクノロジーリサーチセンター

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半導体パラメータアナライザ

半導体パラメータアナライザ


装置分類 デバイス電気特性測定装置群
設備ID
設備名 半導体パラメータアナライザ
設備名(英語) Semiconductor Parameter Analyzer
型番 4200-SCS
メーカー名 Keithley
設置場所 B103
特徴 電流-電圧(I-V)測定、容量-電圧(C-V)測定等
仕様SMU 測定レンジ 電圧 1μV/200V, 電流 0.1fA/1A